研究設備

（1）イメージングプレート型単結晶X線構造解析装置 RAXIS-RAPID （リガク）
	単結晶のX線構造解析を行います． 低温装置が付いており，150 Kぐらいで測定可能です．

（2）可視近赤外顕微分光システム： システム顕微鏡 BX51（オリンパス） ＋ファイバマルチチャネル分光システム USB2000（オーシャンプティクス） ＋デジタルカメラ DSE330-A（オリンパス）
	単結晶の透過吸収スペクトル，反射スペクトル，発光スペクトル測定を行います． ・透過系と落射系のハロゲンタングステンランプ光源を装備． ・落射光学系の水銀ランプと蛍光ミラーユニットを装備． ・偏光子・検光子を装備→偏光顕微鏡として使用可． ・顕微鏡用の温度可変装置（−50〜250℃）・LK600FTIR（リンカム）も装備． ・デジタルカメラが付いていますので，結晶のスチール画が撮影できます．

（3）可視近赤外顕微分光システム： システム顕微鏡 BX60（オリンパス） ＋顕微鏡用ファイバー式グリーンレーザー（シグマ光機） ＋ファイバマルチチャネル分光システムHR2000（オーシャンプティクス）
	単結晶の透過スペクトル測定を行います． また，励起用グリーンレーザーと蛍光ミラーユニットを装備しており，ルビー等の蛍光スペクトル測定も行います．ルビー蛍光測定はダイヤモンドアンビルセル内の圧力校正のために行います．

（4）加熱偏光顕微鏡観察記録装置：

システム顕微鏡 BX60（オリンパス）＋デジタルカメラ DSE330-A（オリンパス）

＋顕微鏡用温度可変装置 LK600FTIR（リンカム）

（5）紫外可視分光光度計 V-650（日本分光）＋ペルチェ式恒温装置＋積分球
	溶液の透過吸収スペクトル測定 （温度可変） 固体粉末の拡散反射スペクトル測定

（6）蛍光分光光度計 FP-6500（日本分光）＋積分球
	溶液の発光スペクトル測定 固体粉末の発光スペクトル測定 量子収率測定 CIE色度図座標測定

（7）電気化学測定装置 HSV-110（北斗電工） ＋ファイバマルチチャネル分光システムHR2000CGS（オーシャンプティクス） ＆USB2000（オーシャンプティクス）
	溶液中の金属錯体の酸化還元電位測定 分光電気化学測定

（8）示差走査熱量計 DSC8230（リガク）

（9）水蒸気雰囲気示差熱天秤 TG-DTA8120/HUM-1（リガク）
	熱重量分析（Thermogravimetry）TG測定，ならびに，湿度依存重量変化測定を行うことができます．

（10）低温恒温装置：東京理化社製LTI-700
	一定に保った低温環境下で結晶を析出させます．

（11）晶析恒温装置：東京理化社製PCC-7000

（12）顕微レーザラマン分光光度計 NRS-5100 （日本分光）
	（未来分子研究センター共通設備） 顕微鏡が備わった装置なので，微小な単結晶のレーザーラマン分光測定が可能です．

（13）DART&ESI-TOF型質量分析装置JMS-T100LP（日本電子）
	（未来分子研究センター共通設備）

（14）粉末X線回折装置 RINT2000 （リガク）
	（学科共通設備）

その他．(このページ作製途中です．)